詳細(xì)信息
水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)技術(shù)工作原理介紹
艾思荔水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)（0769-22851843黃小姐）設(shè)備可滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T9344-98、GB/T2424.14-95、GB/T2423.24-95電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)方法，試驗(yàn)SQ:模擬地面上的太陽(yáng)輻射、GB/T8427-89紡織品色牢度試驗(yàn)，耐人造光色牢度氙弧、GB/T8430-98紡織品色牢度試驗(yàn)，耐人造光色牢度氙弧。
水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)溫控系統(tǒng)
溫度范圍：RT～80℃，
均勻度：±2.5℃,
波動(dòng)度：±1℃
溫度傳感器:鉑金電阻.PT100Ω/MV
加熱方式:鎳鉻合金電加熱式加熱器
黑板溫度：53℃（偏差±3℃）
操作盤(pán)直接設(shè)定實(shí)時(shí)控制
控制器：液晶可程式觸摸式控制器
設(shè)定精度：溫度±0.1℃、濕度±1％R.H
濕度設(shè)定顯示范圍：0～100%RH
定時(shí)范圍：0～99H99M99S
水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)技術(shù)規(guī)格：
型 號(hào)：XL-400
工作室尺寸： 600×800×850（mm）
溫度范圍： RT～80（℃）
A型：溫度RT～80℃水平燈管3KW
B型：溫度RT～80℃水平燈管3KW濕度30～90% RH觸摸式可編程儀表
C型：溫度RT～80℃、垂直燈管6KW、濕度：30～90%RH、噴淋裝置、旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)、觸摸式觸摸式可編程儀表
水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)（141103）用途說(shuō)明：
水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)又名氙燈耐氣候老化試驗(yàn)箱0769-22851843，它采用能模擬全陽(yáng)光光譜的氙弧燈，來(lái)再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)依據(jù)。
想要了解關(guān)于更多恒溫恒濕試驗(yàn)箱的應(yīng)用方案，可與東莞市艾思荔有限公司聯(lián)系，艾思荔專業(yè)生產(chǎn)的產(chǎn)品包括有：恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、恒溫恒濕房等等環(huán)境設(shè)備，公司堅(jiān)持品質(zhì)領(lǐng)先，客戶服務(wù)滿意，使客戶放心，感受到我們的用心。更多氙燈耐氣候老化試驗(yàn)箱詳情請(qǐng)瀏覽：http://www.xdlhx.com/a/cpzs/xdnqhsyj/10.html
艾思荔水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)（0769-22851843黃小姐）設(shè)備可滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T9344-98、GB/T2424.14-95、GB/T2423.24-95電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分試驗(yàn)方法，試驗(yàn)SQ:模擬地面上的太陽(yáng)輻射、GB/T8427-89紡織品色牢度試驗(yàn)，耐人造光色牢度氙弧、GB/T8430-98紡織品色牢度試驗(yàn)，耐人造光色牢度氙弧。
水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)溫控系統(tǒng)
溫度范圍：RT～80℃，
均勻度：±2.5℃,
波動(dòng)度：±1℃
溫度傳感器:鉑金電阻.PT100Ω/MV
加熱方式:鎳鉻合金電加熱式加熱器
黑板溫度：53℃（偏差±3℃）
操作盤(pán)直接設(shè)定實(shí)時(shí)控制
控制器：液晶可程式觸摸式控制器
設(shè)定精度：溫度±0.1℃、濕度±1％R.H
濕度設(shè)定顯示范圍：0～100%RH
定時(shí)范圍：0～99H99M99S
水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)技術(shù)規(guī)格：
型 號(hào)：XL-400
工作室尺寸： 600×800×850（mm）
溫度范圍： RT～80（℃）
A型：溫度RT～80℃水平燈管3KW
B型：溫度RT～80℃水平燈管3KW濕度30～90% RH觸摸式可編程儀表
C型：溫度RT～80℃、垂直燈管6KW、濕度：30～90%RH、噴淋裝置、旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)、觸摸式觸摸式可編程儀表
水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)（141103）用途說(shuō)明：
水冷氙燈老化試驗(yàn)機(jī)又名氙燈耐氣候老化試驗(yàn)箱0769-22851843，它采用能模擬全陽(yáng)光光譜的氙弧燈，來(lái)再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)依據(jù)。
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